霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)低溫型儀器
如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話(huà),可以
產(chǎn)品名稱(chēng): 霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)低溫型儀器
產(chǎn)品型號(hào): JH60D
產(chǎn)品展商: 錦正茂儀器
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)-低溫型可測(cè)試材料:
半導(dǎo)體材料：SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 和鐵氧體材料等
低阻抗材料：石墨烯、金屬、透明氧化物、弱磁性半導(dǎo)體材料、TMR 材料等
高阻抗材料：半絕緣的 GaAs, GaN, CdTe 等
霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)低溫型儀器
的詳細(xì)介紹
